Marktanalyse für Probe-Karten
Der Markt für Probe-Karten wurde im laufenden Jahr auf 2.769,7 Mio. USD geschätzt und wird bis zum Ende des Prognosezeitraums voraussichtlich 3.837,7 Mio. USD erreichen, was einer CAGR von 6,7 % im Prognosezeitraum entspricht. Der Trend bei 5G-Mobilitäts- und Fahrerassistenzsystem-Sensoren für die Automobilindustrie hin zu Hochfrequenz- und kleineren Geräten stellt erhebliche Testherausforderungen dar, was zu einer erhöhten Komplexität der Instrumentierung und der Schnittstellen führt.
- Darüber hinaus wachsen im Einklang mit der steigenden Nachfrage nach photonischen Lösungen im Halbleitersektor die Anforderungen an entsprechende Ökosysteme für optoelektronische Komponenten, und damit ändern Halbleiterhersteller mit eigenen Lieferketten ihre Betriebsprozesse. Zusätzlich zur bestehenden Testinfrastruktur für elektrische Komponenten wird eine Infrastruktur für die Prüfung photonischer Komponenten implementiert. Testhäuser, die Dienstleistungen wie Wafer-Level-Tests für Fabless-Hersteller anbieten, stehen jedoch vor der Herausforderung, ihre Testlösungen in Richtung photonischer integrierter Schaltkreise (PICs) zu erweitern oder neu zu konzipieren.
- Um eine hohe Leistung zu günstigen Kosten zu erzielen, integrieren IC-Hersteller neuartige Chip-Packaging-Alternativen wie 2,5D-ICs und 3D-ICs in ihre Produktionsprozesse. Diese fortschrittlichen Gehäuselösungen, die sich noch in einem frühen Stadium befinden, versprechen verbesserte Chipverbindungen und einen geringeren Stromverbrauch im Vergleich zu herkömmlichen Gehäuseanordnungen. Die Einführung fortschrittlicher Packaging-Technologien wird voraussichtlich die Nachfrage nach Halbleiterausrüstung erhöhen. Moderne Halbleiter-Packaging-Technologien ermöglichen es Herstellern, hochmoderne elektronische Produkte anzubieten, die den IoT- und Digitalisierungstrends folgen. Darüber hinaus würde die Kundenpräferenz für Smartwatches und IoT-Gadgets den Markt für Probe Cards erhöhen.
- Neben den etablierten Tests für ICs suchen Kunden auch nach Testdienstleistungen für neue und fortschrittliche Arten von PIC-Tests auf Waferebene in der Halbleiterindustrie. Insofern gab RoodMicrotec im November 2021 bekannt, dass es die UFO Probe Card-Technologie von Jenoptik für seine PIC-Wafer-Level-Tests einsetzt. Die UFO Probe Card von Jenoptik ermöglicht die Prüfung von elektrischen und optischen Komponenten mit nur einer Probe Card – parallel und nicht sequentiell, wie bei bisherigen Lösungen. Dadurch können Wafer-Level-Tests zeitsparender durchgeführt und der Durchsatz deutlich gesteigert werden.
- Die COVID-19-Pandemie wirkte sich auf mehrere globale Märkte aus. Die Automobil-, Mobilitäts- und Zivilluftfahrtindustrie litt drastisch, wenn auch auf sehr unterschiedliche Weise. Darüber hinaus veränderte die Pandemie die Wahrnehmung der globalen Lieferkette in der Fertigung, wo stärker lokalisierte Wertschöpfungsketten und Regionalisierung ins Spiel kamen. Diese dienten in erster Linie dazu, ähnliche potenzielle Pandemierisiken in der Zukunft zu reduzieren. Auf der anderen Seite zeigte der Verbrauchermarkt aufgrund der Einführung des Sub-6-GHz-Bandes und des Ausbaus von 5G einen positiven Ausblick und erhielt erhebliche Unterstützung durch Hochfrequenz-MEMS. Der Smartphone-Markt ist jedoch auf geringere Verbraucherausgaben ausgerichtet.
- Darüber hinaus ist eines der Haupthindernisse, die die Expansion des Probe Card-Marktes verhindern, der rasante technische Fortschritt der Halbleiterindustrie. Der Halbleitermarkt ist hart umkämpft. Die Branche ist gekennzeichnet durch häufige und schnelle Technologiewechsel, kurze Produktlebenszyklen, starken Preisverfall und sich ändernde Standards. Der Halbleitersektor befindet sich immer noch in einem rasanten technischen Fortschritt. Dies ist in erster Linie auf die zunehmende Komplexität integrierter Schaltkreise (ICs) zurückzuführen, die immer kleiner werden, während sie an Leistungsfähigkeit und Geschwindigkeit gewinnen. Die Designherausforderungen bei ICs steigen aufgrund technologischer Fortschritte, einschließlich der Umstellung auf größere Wafergrößen, der Schaffung von Knoten mit niedrigerer Technologie wie 10 nm und 7 nm und Fortschritten bei MEMS. Daher müssen Hersteller von Prüfkarten Hindernisse überwinden, um innovative Lösungen zu entwickeln, die Funktionsfehler in Wafern genau erkennen können.
Markttrends für Sondenkarten
Es wird erwartet, dass das MEMS-Segment einen großen Marktanteil halten wird
- Die MEMS-Technologie bietet eine Möglichkeit, Tastköpfe herzustellen, die die I/Os und Stromanschlüsse von ICs mit Perfektion im Mikrometerbereich kontaktieren. Aufgrund ihrer Genauigkeit eignen sich MEMS-Sonden zur Unterstützung der Anforderungen von Advanced Packaging und Advanced Semiconductor Process Nodes an Fine-Pitch und High-Pin-Zahl. Allerdings sind nicht alle MEMS-Sonden gleich. MEMS-Probe-Karten stehen an der Spitze dieser Entwicklungen, da sie Probleme mit fortschrittlichen 2,5/3D-Gehäusen, die großen Temperaturbereiche, die zum Testen von ICs für die Automobilindustrie erforderlich sind, die aufkommenden Anforderungen an hohe Bandbreite und effiziente Signalintegrität in HF-Anwendungen lösen und die Kosten für das Testen von Tausenden von DRAM-Speichergeräten mit einem einzigen Touchdown senken.
- Darüber hinaus werden Probe Cards als Hauptschnittstelle für die Signalübertragung zwischen den zu testenden Dies (DUT) und den automatischen Testgeräten (ATE) verwendet, um zu bestimmen, ob der Prüfling während des IC-Tests auf Wafer-Ebene besteht oder nicht. In letzter Zeit wurden zahlreiche MEMS-Probe-Karten hergestellt, von denen einige aufgrund ihrer erheblichen Vorteile gegenüber herkömmlichen Probe-Karten vermarktet wurden. Aufgrund ihrer Einschränkungen kann die Standard-Sondenkarte, die aus einem Epoxidring besteht, der manuell mit Dutzenden bis Hunderten von Cantilever-Nadeln bestückt ist, nicht für IC-Tests der nächsten Generation modifiziert werden. Es wird erwartet, dass solche Entwicklungen den Studienmarkt antreiben werden.
- Um der steigenden Nachfrage der Kunden nach dem MEMS-Probe-Card-Segment gerecht zu werden, bringen verschiedene Unternehmen neue und fortschrittliche Produkte auf den Markt. So bietet die FeinMetall GmbH beispielsweise M-Probe Cards an, die sich durch MEMS-Kontaktelemente auszeichnen und sich besonders für Fine-Pitch-Full-Array-Anwendungen in Wafertests eignen. Mit MProbe lassen sich sehr feine Seillängen mit einem vollen Array von 50 m realisieren. MProbe basiert auf den Sondenkonzepten von ViProbe und bedient Hochtemperaturanwendungen fast in gleichem Maße. Das innovative Verfahren zur freien Trägerplatzierung bietet in Kombination mit dem runden Balkenquerschnitt eine effiziente Wartungsfreundlichkeit und reduziert so Ausfallzeiten auf ein Minimum.
- Darüber hinaus kündigte STAR Technologies Inc., ein bedeutender Akteur im Bereich Halbleiter-Test-Probe-Cards, im Juni 2022 eine gemeinsame Zusammenarbeit mit einer der weltweit führenden Foundries zur erfolgreichen Entwicklung von Fine-Pitch-MEMS-Pre-Bump-Probe-Karten für Pre-Bumped-Wafer-Tests und Zuverlässigkeitsqualifizierungen an. Die Kosten für die vorgebumpte Wafersortierung werden durch diese Probe Cards weiter gesenkt, bei denen Probe Heads auf den gleichen Leiterplatten und Raumtransformatoren wie Bumped Test Probe Cards hergestellt werden. Diese Technik ermöglicht einen schnelleren Übergang von der Ertragssteigerung der Prozesstechnologie in der Frühphase zur Großserienfertigung, um die wachsende weltweite Chipnachfrage in der Halbleiterindustrie zu decken.
- Entwickler von MEMS-Probe-Karten müssen Temperatureffekte als Teil ihres MEMS-Designs berücksichtigen oder riskieren mehrere kostspielige Design- und Fertigungszyklen, um Materialprobleme bei der Herstellung zu lösen. Das Produkt wird typischerweise unter Hochdruck- und Hochtemperaturbedingungen eingesetzt. Fortschrittliche Ansätze verwenden eine Dünnschichtabscheidungstechnik, und ein Hohlraum für MEMS wird durch Opferätzen durch Zugangslöcher an der Dünnschichtkappe realisiert.
Für die Region Asien-Pazifik wird ein hohes Marktwachstum erwartet
- Aufgrund der Präsenz prominenter Halbleiterhersteller, bedeutender Lieferanten von Halbleitermaterialien, High-End-Geräten und spezialisierten Halbleitern, vor allem in Japan, wird erwartet, dass der asiatisch-pazifische Raum den Markt für Probe Cards während des gesamten Prognosezeitraums dominieren wird. Ein weiterer Faktor, der den Markt für Probe-Karten antreibt, ist Südkoreas Wettbewerbsvorteil auf den globalen Märkten für Speicher mit hoher Bandbreite (HBM) und dynamischen Arbeitsspeicher (DRAM). Der Markt für Probe Cards wird auch durch die Integration von Halbleitern in die Automobilelektronik für sicherheitsrelevante Zwecke, Automatisierung, Elektrifizierung und Sicherheit angetrieben.
- Darüber hinaus gibt es einen zunehmenden Verkauf von Elektrofahrzeugen in asiatischen Ländern, was Unternehmen dazu veranlasst hat, IGBT-Halbleiter zu entwickeln, die EV-Anwendungen unterstützen. So produzierte ROHM im Juli 2021 Hybrid-IGBTs mit integrierten 650-V-SiC-Schottky-Dioden der RGWxx65C-Serie (RGW60TS65CHR, RGW80TS65CHR und RGW00TS65CHR). Sie sind für Hochleistungsanwendungen in Automobil- und Industrieanwendungen wie Solarstromkonditionierer, Onboard-Ladegeräte und DC/DC-Wandler in Elektro- und Elektrofahrzeugen (xEV) vorgesehen. Im Rückkopplungsblock des IGBT verwendet die RGWxx65C-Serie die verlustarmen SiC-Schottky-Barrier-Dioden von ROHM als Freilaufdioden mit nahezu geringer Rückgewinnungsenergie und folglich vernachlässigbarem Diodenschaltverlust.
- Ein weiterer Faktor, der den Markt für Probe Cards unterstützt, ist die zunehmende Akzeptanz von Halbleitern aufgrund neuer Technologien wie autonomes Fahren, künstliche Intelligenz (KI), 5G und das Internet der Dinge. Um ihren Wettbewerbsvorteil in der Branche zu erhalten, konzentrieren sich Top-Wettbewerber auch auf eine Vielzahl von Marketingmethoden wie Fusionen und Übernahmen sowie Kooperationen. Um ihre Vertriebspräsenz zu erweitern und auf dem Weltmarkt wettbewerbsfähiger zu werden, kaufte die Nidec Corporation beispielsweise SV Probe Pte. GmbH.
- Darüber hinaus ist DRAM eine Massenspeicher-Halbkomponente, die unter anderem häufig in Smartphones, Tablets, PCs und Servern verwendet wird. In der Vergangenheit hat die DRAM-Speichertechnologie Die-Shrinks durchlaufen, und mit der Veröffentlichung des fortschrittlichen Speichermoduls wird das x/y-Speicherzellenmuster auf dem Siliziumwafer deutlich kleiner. Dies erhöht auch die Kosten für die Herstellung der nächsten Generation von DRAMs aufgrund des steigenden Bedarfs an Präzisionsfertigung. Einige der Hauptakteure auf dem Markt sind Samsung, SK Hynix und Micron.
- Samsung baut seine Dominanz auf dem DRAM-Markt aus. Im zweiten Quartal 2021 verzeichnete das Unternehmen einen Anteil von 43,6 % am weltweiten DRAM-Markt. Das Unternehmen hat neue Versionen von DRAMs für verschiedene Endbenutzer eingeführt. So kündigte das Unternehmen im November 2021 die Entwicklung eines 14-Nanometer-basierten 16-Gigabit-LPDDR5X (Low Power Double Data Rate 5X DRAM) für Anwendungen in den Bereichen künstliche Intelligenz, 5G und Metaverse an.
- Im Mai 2022 wählte Apple einen neuen südkoreanischen Komponentenlieferanten aus, um ihm Sockel und Probekarten für Halbleitertests zur Verfügung zu stellen. Im Gegensatz zu seiner früheren Abhängigkeit von Taiwan und China verlagert Apple seine Sockel- und Probekartenlieferungen schrittweise nach Südkorea.
Überblick über die Probe Card-Branche
Der globale Markt für Probekarten ist aufgrund der Präsenz mehrerer Akteure wie FormFactor Ltd., Feinmetall GmbH, Advantest Corporation, Korea Instrument Co. Ltd. usw. mäßig wettbewerbsintensiv. Die Akteure auf dem Markt verfolgen Strategien wie Produktinnovationen, Fusionen und Übernahmen, um ihr Produktportfolio zu erweitern, ihre geografische Reichweite zu erweitern und vor allem auf dem Markt wettbewerbsfähig zu bleiben.
Im Dezember 2022 kündigte Cohu, Inc., ein globaler Anbieter von Geräten und Dienstleistungen zur Optimierung der Produktivität und Ausbeute der Halbleiterfertigung, eine strategische Zusammenarbeit mit Chunghwa Precision Test Tech. Co., Ltd., einem führenden Anbieter von Testschnittstellenlösungen, an, um fortschrittliche Sondenkarten- und Schnittstellenprodukte für den Halbleitertestmarkt anzubieten.
Im April 2022 kündigte der bekannte Anbieter von Halbleitertestgeräten Advantest Corporation seine branchenweit erste ACS Adaptive Probe Cleaning-Lösung an, um den Reinigungszyklus von Probe Cards effizient zu optimieren. STMicroelectronics hat ACS APC an zwei seiner Produktionsstandorte installiert und stellt fest, dass die Reinigungszykluszeiten erheblich verkürzt wurden, um die Ausbeute effektiv zu verbessern, die Lebensdauer der Sondenkarten zu verlängern und die Systemverfügbarkeit für Tests zu erhöhen.
Marktführer für Probekarten
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FormFactor Ltd.
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Feinmetall GmbH
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SV Probe
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Microfriend Inc.
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Japan Electronic Materials Corporation
- *Haftungsausschluss: Hauptakteure in keiner bestimmten Reihenfolge sortiert
Probe Card Marktnachrichten
Oktober 2022 Tikehau Capital, eine in Paris ansässige Vermögensverwaltungsgesellschaft, investierte 30 Millionen US-Dollar in Probe Test Solutions, einen in Glasgow, Schottland, ansässigen Anbieter von ATE-Sondenkarten (Automated Test Equipment). Das gesammelte Geld sollte das Unternehmen bei der internationalen Expansion unterstützen. Mit dieser Investition erhält Probe Test Solutions (PTSL) operative Unterstützung von Tikehau Capital, um seine globale Expansion zu beschleunigen, einschließlich der richtigen Akquisitionen im Rahmen der anhaltenden Konsolidierung des Halbleitersektors. Probe Test Solutions beobachtete kontinuierlich den Markt und seine Konkurrenten, um Unternehmen des ATE-Ökosystems zu identifizieren, die über vergleichbare Technologien und Kompetenzen verfügen.
Mai 2022 Die Advantest Corporation hat ihre DUT Scale Duo-Schnittstelle für die V93000 EXA Scale SoC-Testsysteme auf den Markt gebracht, die ein hohes Maß an Parallelität beim Testen fortschrittlicher Halbleiter ermöglicht. Mit dieser Schnittstelle soll der nutzbare Platz auf Prüflingsplatinen und Probe-Karten um 50 % oder mehr erhöht werden, während Wafer-Probe- und Endtest-Aufbauten mehr als dreimal höhere Bauteilhöhen aufnehmen können.
Segmentierung der Probe Card-Branche
Eine Probe Card ist eine Vorrichtung, die für die elektrische Prüfung eines großen integrierten Schaltkreischips (LSI) auf einem Wafer während des Wafer-Testprozesses in der LSI-Fertigung verwendet wird. Eine Probe Card wird an eine Wafer-Sonde angedockt, um die LSI-Chip-Elektroden zu verbinden, und ein LSI-Tester wird als Messmaschine verwendet. Die Sondenkartennadeln kontaktieren die LSI-Chipelektroden, um elektrische Tests für den Go/No-Go-Test durchzuführen.
Der globale Markt für Probe Cards ist nach Technologie (MEMS, vertikal, Cantilever, Spezialität), Anwendung (DRAM, Flash, Foundry & Logic, parametrisch), Typ (Standard-Probe-Card, erweiterte Probe-Karte) und Geografie (Nordamerika, Asien-Pazifik, Europa und der Rest der Welt) unterteilt. Die Marktgrößen und Prognosen werden für alle oben genannten Segmente wertmäßig (Mio. USD) angegeben.
| MEMS |
| Vertikal |
| Ausleger |
| Spezialität |
| Andere Technologien |
| Speichermodul |
| Blitz |
| Gießerei & Logik |
| Parametrisch |
| Andere Anwendungen (RF-/MMW-/Radar-Kalibrierungstools) |
| Standard-Prüfkarte |
| Erweiterte Prüfkarte |
| Nordamerika |
| Asien-Pazifik |
| Europa |
| Rest der Welt |
| Nach Technologie | MEMS |
| Vertikal | |
| Ausleger | |
| Spezialität | |
| Andere Technologien | |
| Nach Anwendung | Speichermodul |
| Blitz | |
| Gießerei & Logik | |
| Parametrisch | |
| Andere Anwendungen (RF-/MMW-/Radar-Kalibrierungstools) | |
| Nach Typ | Standard-Prüfkarte |
| Erweiterte Prüfkarte | |
| Nach Geografie | Nordamerika |
| Asien-Pazifik | |
| Europa | |
| Rest der Welt |
Häufig gestellte Fragen
Wie groß ist der aktuelle Markt für Probe Cards?
Der Markt für Probe-Karten wird im Prognosezeitraum (2024-2029) voraussichtlich eine CAGR von 6,70 % verzeichnen
Wer sind die Hauptakteure auf dem Probe Card Market?
FormFactor Ltd., Feinmetall GmbH, SV Probe, Microfriend Inc., Japan Electronic Materials Corporation sind die wichtigsten Unternehmen, die auf dem Probe Card Market tätig sind.
Welches ist die am schnellsten wachsende Region im Probe Card Market?
Es wird geschätzt, dass der asiatisch-pazifische Raum im Prognosezeitraum (2024-2029) mit der höchsten CAGR wachsen wird.
Welche Region hat den größten Anteil am Probe Card Market?
Im Jahr 2024 hat Nordamerika den größten Marktanteil am Markt für Probe-Karten.
Welche Jahre deckt dieser Probe Card-Markt ab?
Der Bericht deckt die historische Marktgröße des Probe Card-Marktes für die Jahre ab 2019, 2020, 2021, 2022 und 2023. Der Bericht prognostiziert auch die Marktgröße für Probe Cards für Jahre 2024, 2025, 2026, 2027, 2028 und 2029.
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Probe Card Branchenbericht
Statistiken für den Marktanteil, die Größe und die Umsatzwachstumsrate von Probe Card im Jahr 2024, erstellt von Mordor Intelligence™ Industry Reports. Die Analyse der Probe Card enthält einen Marktprognoseausblick für 2024 bis 2029 und einen historischen Überblick. Erhalten Ein Beispiel dieser Branchenanalyse als kostenloser Bericht als PDF-Download.